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2018
8.22

什么叫 Zeta 電位

分散在液體（特別是水）中的顆粒對液體中離子有選擇性吸附作用，加上固液兩相對電子的親和性不同，往往致使顆粒表面帶電。帶電顆粒周圍的溶液中將富集帶相反符號的離子（即反離子），其中一部分反離子與顆粒表面緊密結(jié)合，構(gòu)成固定吸附層，或稱Stern層，另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴散兩種相反作用的平衡，分布在顆粒周圍溶液中，與顆粒一起構(gòu)成所謂的擴散雙電層。如果對這種固-液分散體系施加一個直流電場，則帶電顆粒將向相反電性的電極方向作定向運動，此即電泳現(xiàn)象。帶電的顆粒表面與溶液內(nèi)部的電位差...
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2018
8.22

電阻法粒度測量原理

電阻法（庫爾特）顆粒計數(shù)器粒度測量原理是小孔電阻原理，如圖所示。小孔管浸泡在電解液中，小孔管內(nèi)外各有一個電極，電流通過孔管壁上的小圓孔從陽極流到陰極。小孔管內(nèi)部處于負壓狀態(tài)，因此管外的液體將流動到管內(nèi)。測量時將顆粒分散到液體中，顆粒就跟著液體一起流動。當其經(jīng)過小孔時，小孔的橫截面積變小，兩電極之間的電阻增大，電壓升高，產(chǎn)生一個電壓脈沖。當電源是恒流源時，可以證明在一定的范圍內(nèi)脈沖的峰值正比于顆粒體積。儀器只要測出每一個脈沖的峰值，即可得出各顆粒的大小，進而可得出粒度的分布。
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2018
8.22

顯微圖像顆粒測試原理

通過對顆粒數(shù)量和每個顆粒投影所包含的像素數(shù)量的統(tǒng)計，計算出每個顆粒的等圓面積，從而得到顆粒的等圓面積直徑，進而得到粒度分布，還能通過長徑，短徑計算出長徑比和球形度等粒形參數(shù)。圖像顆粒分析系統(tǒng)包括光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。它是將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物。具有直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統(tǒng)計、自動標定等特點，不僅可以用來觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、平均長徑比以及長徑比分布等，為科研、生...
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2018
8.22

什么是氣體吸附法和 BET 理論？

氣體吸附法是在恒溫條件下，通過測定樣品在一系列分壓下對背吸附氣體的飽和吸附量獲得吸附—脫附等溫線，以求得樣品比表面積孔徑分布的方法。求得樣品比表面和孔徑分布的理論基礎是BTE理論，也叫多孔物質(zhì)的多分支層吸附理論，它是建立在Langmuir方程之上并對其修正的一種方法，是計算比表面的普遍理論。
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2018
8.22

測量安息角有哪些方法？

測量安息角有兩種方法：種是注入角法，指從某一高度粉體注入到大的平板上所形成的錐體斜面的角度。第二種是排出角法，指將粉體注入到較小直徑的圓板上后當粉體堆積到圓板的邊緣時，粉體開始從邊緣排出，此時圓板上粉體形成的堆積角為排出角。由于排除角法體積較小，操作簡便，因此實際測量安息角時常用排除角法。排除角法所用的的圓板直徑尺寸一般在80mm左右。
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2018
8.21

金屬粉體流動性的測量方法

根據(jù)GB1482或ISO4490，金屬粉體流動性通常用霍爾流速計來測量。測量過程是稱量50g±0.1g樣品，用手指堵住漏斗小孔，將樣品倒入漏斗，在快速移開堵小孔的手指同時啟動秒表（精度0.2s）計時，直到粉樣流盡時刻立即停止計時，通過50g粉體流過小孔的時間的長短來評價金屬粉體的流動性好與壞。霍爾流速計的標準漏斗需要用標準樣品標定，標準樣品的流速為40±0.5s/50g。
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2018
8.21

內(nèi)摩擦角測量有哪些主要方法？

內(nèi)摩擦角表示粉體內(nèi)部顆粒層間的摩擦特性，粉體內(nèi)部任一點會承受四周顆粒的作用致使顆粒滑動形成相互之間的摩擦。摩擦角有以下幾種測量方法：（1）倉流試驗法（bin-flowtest）：在料倉底部開有小孔，倉內(nèi)粉體通過該孔自由降落，顆粒移動面與水平面的夾角，即為該粉體的內(nèi)摩擦角。（2）圓棒張力實驗法（rod-tensiontest）：一圓棒垂直地放置于容器中心，將粉體加入容器，使粉體表面水平，然后用力拉圓棒向上移動，移動面與水平面的夾角即是內(nèi)摩擦角。
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2018
8.21

為什么不同粒度儀所測的結(jié)果不同？

在粒度測量中我們常常會遇到這樣的情況：同一個樣品，不同的儀器往往測出不同的結(jié)果，一些粉體生產(chǎn)廠家和用戶往往會根據(jù)各自粒度數(shù)據(jù)來評判產(chǎn)品質(zhì)量，從而產(chǎn)生種種分歧。產(chǎn)生這種現(xiàn)象的原因主要有以下幾個方面：1、所用儀器的原理不同。自然界中顆粒是不規(guī)則的、非球形的，由于不同原理的儀器所測出的等效粒徑不同，所以測量結(jié)果不同；2、相同原理的儀器由于標定體系不同，所得到的粒度值會有較大差異。3、儀器的目前的狀態(tài)、分辨力、參數(shù)設置等不同造成的。4、分散時間、分散劑、遮光率、介質(zhì)等測試條件不同造成...
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